DuPont gelişmiş saha incelemesi ve analiz programı sonuçlarına yer verdiği “Küresel Fotovoltaik Güvenilirlik Raporu” başlıklı bir saha çalışması yayımladı.
Raporda, 3 GW’lık güneş enerjisi tesisatı, 9 milyon panel ve 551 tesisat analiz edildi.
Kuzey Amerika, Avrupa, Asya ve Orta Doğu’daki DuPont bilim adamları ve mühendisleri tarafından yürütülen çok adımlı incelemede, malzeme, montaj, hizmet süresi ve iklim dâhil olmak üzere bir dizi değişken ele alındı.
Analizden elde edilen bulgulara göre, toplam modül hatasının yüzde 30, toplam arka tabaka hatasının yüzde 16 olduğu, Poliviniliden Florür (PVDF) arka tabakalarının toplam dış tabaka çatlama oranın ise 2019 yılına kıyasla üç kattan fazla arttığı kaydedildi.
“Uygun malzeme seçimi hayati bir önem gösteriyor”
DuPont Fotovoltaik Çözümler Kıdemli Bilim Adamı ve Küresel Teknoloji Lideri Dr. Kaushik Roy Choudhury,
“Uzun vadede yatırımların korunmasına yardımcı olmak için sahadan topladığımız veriler, güneş panelleri için uygun malzeme listesini seçmenin hayati önemini göstermeye devam ediyor. ” dedi.
DuPont ekibi, Çin, Avrupa, Hindistan ve Kuzey Amerika’da kurulumdan sonra 4-9 yıl arasında PVDF dış katman çatlama kusur oranlarında yaklaşık dört kat kümülatif bir artış gözlemledi.
Yaşanan çatlamaların sıcak kurak, soğuk kurak, ılıman ve Akdeniz Bölgelerinde gerçekleşmesi nedeni ile çatlama ve iklim arasında belirgin bir ilişki olmadığı belirtildi.
Floro Etilen Vinil Eter (FEVE) ve Polietilen Tereftalat (PET) arka tabakalarında sıklıkla iç tabaka çatlaması görüldü.
Choudhury, “Çoklu çift cam modül kurulumlarında delaminasyon ve çatlama gözlemlendi. Delaminasyon, bir modülün kenarlarına veya tek tek hücrelere bağlıyken, çatlaklar cam yüzeyler ve kenarlardaki çizikler veya talaşlardan veya raf sistemi tarafından getirilen stres yükselticilerinden kaynaklanıyor gibi görünüyor.” dedi.
Kapsamlı rapor, alıcıların ve yatırımcıların, bileşen bozulması sorunlarını ve alanda meydana gelebilecek modül arızalarını anlamalarına yardımcı olmayı amaçlıyor.
Rapora BURADAN ulaşabilirsiniz.
